HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪超大样品仓型 XGT-9000SL 湖南中崎科技有限公司

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产品名称：HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪超大样品仓型
产品型号：XGT-9000SL
产品厂商：HORIBA堀场
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详情介绍：

HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪超大样品仓型XGT-9000SL

*保证**条件下的大尺寸样品的显微分析*

超大样品仓空间 (W x D x H) : 1030 mm x 950 mm x 500 mm
X-ray shield complying withX射线辐射防护完全符合JAIMAS0101-2001/ IEC1010-1，保证操作人员免受X射线辐射的
样品扫描区域可达 350 x 350 mm2
具有超高强度的小于15µm的X射线束斑保证元素分布检测的灵敏度和空间分辨率
双检测器配置同时检测荧光X射线和透射X射线
搭载轻元素检测器和He吹扫模块，检测元素范围下探至C元素

事业部: 科学仪器

产品分类: X-射线荧光光谱仪

制造商: HORIBA, Ltd.

激发系统 XGT-9000SL可以配置15µm和100µm超高强度X射线探头在显微水平上进行X射线荧光分析，即使针对大样品也是如此。X射线发生器可以提供高达50 kV和1000µA的X射线辐射输出。因此，高性能激发系统为大样品分析提供了**性能和灵活性。
光学图像拍摄清晰的图像对于微区 XRF至关重要。XGT-9000SL提供了两种类型的相机，用以捕获样品的整体图像和微观的细节图像。多种照明模式有助于获得清晰的图像，即使是有反射和透明的样品。
样品仓 XGT-9000SL的大样品仓空间（1030 mm x 950 mm x 500 mm）可以容纳各种各样的样品，从微小尺寸的碎片到电路板和绘画等大小的样品。XGT-9000SL配备符合JAIMAS0101-2001/IEC1010-1标准的X射线防护装置，可保证操着者免受X射线照射。XGT-9000SL可以保证**的情况下对样品进行非破坏性分析。
检测器 XGT-9000SL配备了透射X射线检测器和荧光X射线检测器。透射X射线检测器使用户能够检测样品的内部缺陷和异物。搭载轻元素检测器和He吹扫模块，荧光X射线检测器可以检测从镅到碳的所有元素。
软件套件当然，XGT-9000SL软件涵盖了所有基本检测功能，如单点分析、多点分析、线分析和Mapping成像等。除了标准软件功能外，还可以向软件套件中添加模块，以提供更的用户体验。这些模块包括：用于有标样或无标样的膜厚检测的FPM多层膜检测模块用于RoHS有害元素筛查的RoHS检测模块用于无人值守的多任务队列检测模块用于颗粒异物成分、分级分析和原位分析的颗粒搜寻模块用于将检测数据导入LabSpec 6进行多元分析的LabSpec链接模块。