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  • 产品名称：HORIBA堀场等离子体分析飞行时间质谱仪

  • 产品型号：PP-TOFMS
  • 产品厂商：HORIBA堀场
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详情介绍：

HORIBA堀场等离子体分析飞行时间质谱仪PP-TOFMS


快速、灵敏、高分辨的深度剖析技术

等离子体分析TOFMS满足了材料科学家在多领域的应用需求，可对无机材料进行快速元素深度分布剖析，测试速度快，操作简单，减少了许多生长过程优化时间，有助于减少发现新材料到应用的时间。

可覆盖每个深度点测试的 TOFMS 可以用于检测非可疑污染，这是薄膜工艺失效分析和优化的关键，这种方法不局限于高阶方法（即喷墨印刷……）。

PP-TOFMS 是材料科学家理想的过程监控工具:

  • 检查化学计量与层深度的关系，范围从纳米到数十微米

  • 确定掺杂深度分布

  • 识别未预料到的污染

  • 监控界面组成和宽度

事业部: 科学仪器
产品分类: 辉光放电发射光谱仪（GD-OES）
制造商: HORIBA France SAS

快速、灵敏、高分辨的深度剖析技术

等离子体分析TOFMS满足了材料科学家在多领域的应用需求，可对无机材料进行快速元素深度分布剖析，测试速度快，操作简单，减少了许多生长过程优化时间，有助于减少发现新材料到应用的时间。

可覆盖每个深度点测试的 TOFMS 可以用于检测非可疑污染，这是薄膜工艺失效分析和优化的关键，这种方法不局限于高阶方法（即喷墨印刷……）。

PP-TOFMS 是材料科学家理想的过程监控工具:

  • 检查化学计量与层深度的关系，范围从纳米到数十微米

  • 确定掺杂深度分布

  • 识别未预料到的污染

  • 监控界面组成和宽度

事业部: 科学仪器
产品分类: 辉光放电发射光谱仪（GD-OES）
制造商: HORIBA France SAS

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