产品名称：近红外光谱辐射计

TOPCON拓普康 SR-NIR 近红外光谱辐射计

使用光谱法对600-1030nm的近红外区域进行高精度测量。

简介：

近年来，对测量近红外光谱区域的需求不断增加，然而，特别是在FPD和照明市场，
没有方便和高精度的测量仪器。
在这种情况下，我们开发了基于
我们有名的SR-3AR技术的NIR光谱辐射计SR-NIR。
而且，您可以使用其他SR系列和SR-NIR测量从380nm到1030nm的光谱辐射度。

特点：

■ 平板显示器近红外光谱区域的可测量超弱光信号 

■ 近红外光谱区域的高精度测量。
■ 可测量的近红外光谱形式为380nm至1030nm，使用其他SR系列和SR-NIR。

主要用途：

■ 用于测量LCD和OLED等FPD的近红外光谱区域。
■ 用于测量氖、氩线谱。
■ 用于测量薄膜片在近红外光谱区域的透射特性。
■ 来自其他光源的近红外光谱区域。

规格：

光电探测器	电子冷却线性CCD
分散元件	衍射光栅
光学系统	物体镜头 ： f= 82mm F2.5， 目镜镜头 ： 5° 视场
测量角度	2°/1°/0.2°/0.1° 可选（电动机驱动）
*小测量面积	2°： 10.0 毫米φ 1°： 4.99 毫米φ 0.2°： 1.0 毫米φ 0.1°： 0.5 毫米φ
测量距离	350mm – ∞（与物镜金属**的距离）
波长范围	600 – 1030nm
频谱带宽	6 – 8纳米（半带宽）
波长分辨率	1纳米
测量模式	自动/手动（积分时间/频率）
测量对象	光谱辐射度 ： W・sr-1・m-2・纳米-1
计算功能	光谱辐射度 ： 600 – 1030nm
测量范围(*1)	2° ： 0.5 – 3，000 cd/m2 1° ： 1 – 9，000 cd/m2 0.2° ： 20 – 70，000 cd/m2 0.1° ： 100 – 300，000 cd/m2
重复性(*2)	±2%以下
偏振误差	光谱辐射度 5% 以下
校准标准	拓普康标准灯 （标准光源 A，23°C±3°C，65%RH 或更低）
测量时间(*3)	约 1 – 31 秒
接口	RS-232C， USB 2.0 接口
电源	专用交流适配器AC100V-240V，50/60Hz，
功耗	约34W
使用条件	温度：5 – 35°C，湿度：80%RH或更低 （无冷凝）
外形尺寸（宽×深×高）	150×406×239毫米
重量	约5.5公斤

*1 本产品不是亮度测量值，因此这是标准光源A的参考数据。 *2 波长为600至1030nm，适用于TOPCON标准光源。

*3 与PC的通信时间除外。

测量区域

* 测量距离是物镜仪器上金属夹具**的距离。