产品名称：光谱辐射计

TOPCON拓普康 SR-LEDH 光谱辐射计

推荐使用超高速测量功能的制造工艺。

简介：

本产品配备FIX模式，可自动优化配置，实现约0.4秒的超高速测量。
这个测量时间是我们之前模型的一半。
SR-LEDH将满足对高精度和高速测量的严格要求，适用于LED模组生产线的质量控制。

特点：

■ 通过具有FIX模式的LAN进行高速测量（0.4秒）。
■ 通过我们新的原创光学系统降低了灵敏度的均匀性。
■ 纤薄的机身，适用于加工线和系统设备。
■ 包括原创软件开发工具包。（软件开发工具包）

* 软件开发套件（SDK）
该开发套件为客户提供了开发局域网通信软件的便捷工具。
SDK由头文件、库、开发局域网通信软件所需的示例程序组成。
您可以通过在模块中调用库函数来开发网络编程（套接字通信编程）。
客户还可以使用网络编程开发软件，而无需SDK。
可以通过网络中的PC控制SR-LEDH，也可以通过一台PC控制多个SR-LEDH。

主要用途：

规格：

光电探测器	电子冷却回入射式CCD
分散元件	衍射光栅
光学系统	物体镜头 ： f= 82mm F2.5 准直镜头 ： 视野范围= 5°
测量角度	仅 2°/1° 准直（电动机驱动）
测量距离	350mm – ∞（与物镜金属**的距离）
频谱带宽	6 – 9纳米 *半带宽
波长精度	±0.3纳米*汞发射灯
波长范围	380 – 780nm
波长分辨率	1纳米
测量模式	自动/手动（积分时间/频率）/FIX
测量对象	光谱辐射度 ： W・sr-1・米-2・纳米-1
计算功能	光辉乐 ： W・sr-1・米-2， 亮度 Lv ： cd・m-2， CIE1931 色度坐标 x y， CIE1976 色度坐标 u' v'， 三刺激值 XYZ， 相关色温和偏差， CIE 标准观测器 2°/ 10°
保证 照度精度范围(*1)(*2)	2°： 10 – 1，500，000 cd/m² 1°： 30 – 4，500，000 cd/m²
亮度精度(*1)	±2%以下
色度精度（x，y）(*1)	±0.002
亮度重复性(*3)	2°： 0.3% （10 cd/m² 或更多） 1°： 0.3% （30 cd/m² 或更多）
色度的可重复性(*4)	2°： 0.0005 （10 cd/m² 或更多） 1°： 0.0005 （30 cd/m² 或更多）
偏振误差	亮度：1%以下 光谱辐射度：5%以下 （400 – 700nm）
测量时间(*5)	约0.4秒
接口	局域网（*6） / RS-232C 可选
电源	专用交流适配器 AC100V-240V，50/60Hz
功耗	约33W
使用条件	温度：5 – 35°C，湿度：80%RH或更低 （无冷凝）
外形尺寸（宽×深×高）	98×413×231.5毫米
重量	约5.3公斤

*1 对于标准照度A.
*2 正常和高速模式下的可测量范围。
*3 2σ 在正常速度模式下，以测量角度 10° 连续测量 2 次。
*4（*大 – *小）值，在正常模式下以测量角度 10° 连续测量 2 次。
*5 测量角度：2°，积分时间：100ms，高速模式，LAN（机顶盒命令），
颜色测量模式。

*6 TCP/IP，以太网 10/100BASE-TX。

测量区域

* 测量距离是物镜仪器上金属夹具**的距离。

■ 附件镜头 ： AL-6 

■ 附件镜头 ： AL-11 

■ 附件镜头 ： AL-12 

■ 参考白板 ： WS-3 

■ 光纤探头 ： FP-3P
■ 三脚架 5N ： 三脚架 5N
■ 三脚架 ： 三脚架-SR 

■ 精细控制表 ： S-4 

■ 中性密度滤光片 ： ND-10/100

■ 照度适配器 ： ZV-30